簡(jiǎn)要描述:阻抗測(cè)試儀 IM3570實(shí)現(xiàn)LCR測(cè)量、DCR測(cè)量、掃描測(cè)量等的連續(xù)測(cè)量和高速檢查L(zhǎng)CR模式下Z快1.5ms(1kHz),0.5ms(100kHz)的高速測(cè)量基本精度±0.08%的高精度測(cè)量適用于壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測(cè)量,電感器(線圈、變壓器)的DCR和L-Q的測(cè)量分析儀模式下可進(jìn)行掃頻測(cè)量、電平掃描測(cè)量、時(shí)間間隔測(cè)量
產(chǎn)品分類
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品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子 |
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1臺(tái)儀器實(shí)現(xiàn)不同測(cè)量條件下的高速檢查 |
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阻抗測(cè)試儀 IM3570 |
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阻抗測(cè)試儀 IM3570主機(jī)不標(biāo)配治具。請(qǐng)根據(jù)您的需求選擇選件中的治具和探頭。 |
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基本參數(shù) |
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